光纖模式測量分析儀STAR-CMC-1550

STAR-CMC-1550光纖模式測量分析儀使用空間和光譜分辨成像(S2)技術(shù)來識別少模光纖的傳播模式。它由兩個不同的單元組成：一個可調(diào)諧激光器和一個接收器單元。STAR-CMC-1550 允許獲得每種傳播模式的差分群延遲 (DGD) 以及與最激發(fā)模式相比的相對強(qiáng)度或多徑干擾(MPI)。此外，STAR-CMC-1550允許重建被測光纖的導(dǎo)模輪廓和相位。

特點和優(yōu)勢

• 可測量直徑高達(dá)400um的光纖

• 可測量空芯和實芯少模光纖

• 可重建傳播模式剖面和相位

• 可計算高階模式與最激發(fā)模式相比的相對強(qiáng)度

• 可計算傳播模式的DGD

測量能力

• 纖維直徑：＜400um

• 光纖長度：5～100m

• 測量時間**：＜ 90秒?

• 光纖類型：少模實芯和空芯光纖

• 可分析2000張圖像

光學(xué)參數(shù)

• 測量波長：1480～1630nm

• 波長分辨率：10pm

• 最大DGD：365ps

• DGD分辨率：0.05ps

• 圖像傳感器：InGaA10.8x12.3mm，512x640像素，20um像素間距

• 曝光范圍：0.1ms至20ms曝光時間

• A/D轉(zhuǎn)換：16位

物理參數(shù)

• 重量：7kg（可調(diào)諧激光）； 8kg（接收單元）

• 尺寸：0.22m  x 0.385m x 0.131m（可調(diào)諧激光器）； 0.306mx0.606mx0.145m（接收器單元）

• 工作溫度：15-300℃

• 濕度：相對濕度5%-95%，非冷凝

• 計算機(jī)要求：所有系統(tǒng)均配備運行最新Windows操作系統(tǒng)的計算機(jī)

• 數(shù)據(jù)接口：1 X USB 3.0（USBA to USBB：提供1m電纜）

STAR-nPA-600光纖折射率分析儀

在幾秒鐘內(nèi)即可測量光纖折射率!

STAR-nPA-600 是獲取用于驗證標(biāo)準(zhǔn)和特種光纖所需的折射率數(shù)據(jù)的快速、簡單且低成本的方法。最少化需要的光纖準(zhǔn)備工作，同時干凈、高效的圖形用戶界面允許用戶以最少的培訓(xùn)或經(jīng)驗充分表征他們的光纖。STAR-nPA-600 提供準(zhǔn)確且可重復(fù)的折射率數(shù)據(jù)，提供有關(guān)光纖設(shè)計和制造過程的寶貴信息。

STAR-nPA-600 折射率分析儀使用改進(jìn)的折射近場技術(shù)來分析光纖的端視圖灰度強(qiáng)度分布，以確定其完整的 2D 折射率分布。使用時無需旋轉(zhuǎn)光纖或掃描光纖端面，并且測量速度非常快，這意味著 STAR-nPA-600 非常適用于生產(chǎn)線、研發(fā)實驗室或 QA 環(huán)境。

特點和優(yōu)勢

• 秒測

• 非?？焖俸秃唵蔚墓饫w準(zhǔn)備工作——只需切割和插入光纖

• 高度用戶友好的軟件

• 可測量直徑高達(dá)600um的光纖

• 測量非圓形對稱纖維——適用PM；八角形，多核

• 可溯源校準(zhǔn)

干涉式檢測系統(tǒng)儀

干涉檢測系統(tǒng)儀(STAR-VFI-xxxx)專門用于檢查切割或拋光光纖的表面質(zhì)量和平整度。

特點和優(yōu)勢

• 可接收125-1200um直徑的光纖

• 500萬像素相機(jī)提供x6數(shù)碼變焦

• 支持Arden, Fujikura/AFL, Vytran和Furakawa/FITEL

• 曲率估計的末端角度/半徑

• 檢查和邊緣模式

• 支持扁平和傾斜的末端

• 用戶校準(zhǔn)設(shè)備

應(yīng)用

• 精密切割機(jī)制造

• 切割機(jī)維護(hù)

• 激光制造

• 醫(yī)療器械制造

• 設(shè)備尾纖測試

訂購須知

可選項

環(huán)形通量計

環(huán)繞通量現(xiàn)在被廣泛接受為IEEE、TIA和IEC指定模態(tài)填充的首選方法。FOTP-203中定義了環(huán)繞通量的測量——“模式資源管理器”是當(dāng)今最符合標(biāo)準(zhǔn)的測量系統(tǒng)，已被美國和歐洲的主要標(biāo)準(zhǔn)實驗室選擇作為其臨界測量的基礎(chǔ)。其緊湊的尺寸和堅固的設(shè)計使其成為電纜制造商，光纖儀器公司和VCSEL，激光和LED光源制造商的首選工具。在每天的工廠使用中，業(yè)內(nèi)的主要參與者都依賴于Modal Explorer。模態(tài)資源管理器可用于測量850和1300nm以及其他自定義波長。Modal Explorer使環(huán)通量測量簡單、準(zhǔn)確，符合國際標(biāo)準(zhǔn)。但是，如果您正在為多模系統(tǒng)測量基于激光的透射光源，您可能需要使用測試跳線組件和光纖振動器，以避免“斑點”。行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，例如IEEE 802.3aq和FOTP-203，要求使用機(jī)械光纖振動器。光纖振動器（MPX-SR3選項）通過改變光纖中模式的差分路徑長度來減少斑點。纖維不斷搖晃，以使斑點被平均出來。這將確保測量包圍通量的足夠可重復(fù)性。

特點和優(yōu)勢

• 帶有焦點指示器的端面檢查模式，為操作員提供更好的可重復(fù)性

• 電源監(jiān)視器-同時優(yōu)化輕吞吐量和模態(tài)條件

• 實時測量-輕松調(diào)整模態(tài)條件并提高生產(chǎn)率

• 具有完全填充發(fā)射條件的內(nèi)部LED

• USB2.0連接提供便攜性-可選的手提箱加上筆記本電腦

• 可選的幾何校準(zhǔn)工件，以實現(xiàn)MPX的用戶校準(zhǔn)

• 為在生產(chǎn)環(huán)境中使用而設(shè)計的API軟件控制功能

應(yīng)用

• IEC11801和TIA/EIA568 LAN測試的源和跳線特性

• 千兆以太網(wǎng)IEEE 802.3的VCSEL特性

• 模式擾頻器和模式濾波器特性

• 連接器檢查測量電源符合IEC 61280-4-1

訂購須知

可選項

散斑衰減器（見選項STAR-MPX-SR3）

散斑衰減器MPX-SR3使環(huán)形通量的測量變得簡單、準(zhǔn)確，并且符合國際標(biāo)準(zhǔn)。通過改變光纖中各種模式的差分路徑長度來減少散斑，在測量過程中，光纖連續(xù)振蕩，以使散斑平均化。這將確保環(huán)形通量的測量具有足夠的可重復(fù)性。散斑衰減器MPX-SR3有兩個通道。一個通道包含OM1（62.5/125μm分級索引光纖）和另一個OM2（50/125μm分級指數(shù)光纖），也可與OM3和OM4光纖一起使用。每個通道都有一個輸入和輸出端口，標(biāo)配FC/PC連接器。

典型優(yōu)勢

• 尺寸較小

• 雙光纖輸入：OM1/OM2或OM3/OM4

• 低噪音

• 重量輕

• 抖動頻率為10Hz

光纖和陣列幾何測量系統(tǒng)

STAR-FGC-GT和STAR-FGC-GS玻璃光纖幾何測量系統(tǒng)

STAR-FGC系列是在生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境中測量標(biāo)準(zhǔn)和特種光纖尺寸的完整解決方案。STAR-FGC-GT -玻璃光纖幾何尺寸，直徑可達(dá)400um。STAR-FGC-GS -玻璃光纖幾何光纖，直徑達(dá)1000um。暗場照明系統(tǒng)允許軟件通過照亮光纖端面和成像反射光來顯示光纖端面的清晰實時圖像。這允許用戶在進(jìn)行幾何測量時檢查光纖的端面。光纖幾何測量的暗場方法得到了英國NPL和美國NIST的支持。

STAR-FGC附帶一個高效的軟件包，其中包含在反射和傳輸模式之間切換的控件。這允許用戶快速輕松地進(jìn)行核心和包層幾何測量，包括直徑、非循環(huán)和同心度。該軟件包含所有標(biāo)準(zhǔn)電信光纖的測量模板，但用戶也可以創(chuàng)建自己的模板。這允許測量許多特殊光纖類型，包括雙包層光纖、彎曲不敏感光纖、多芯光纖等。

特點和優(yōu)勢

• 測量最廣泛的光纖尺寸和類型-單單元解決方案意味著更少的工作臺空間

• 符合標(biāo)準(zhǔn)-按照國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)，確保其準(zhǔn)確性

• 生產(chǎn)就緒-可靠、可重復(fù)、在幾秒鐘內(nèi)可得出結(jié)果

• * 重復(fù)性是在STAR-FGC-GT上使用一根125um光纖測量的，無需將其從設(shè)備上移除，重復(fù)性規(guī)格僅適用于OM1、OM2和單模光纖。

• ** 重復(fù)性是在STAR-FGC-GS上使用一根540/600um光纖測量的，無需將其從設(shè)備上移除。

訂購須知

STAR-FGC-GA陣列幾何測量系統(tǒng)

STAR-FGC-GA是v型槽陣列生產(chǎn)測量和過程控制的最終解決方案。通過一個單元，用戶可以測量寬達(dá)15mm的多光纖陣列的v型槽塊幾何形狀、芯對芯間距和芯X & Y偏置。STAR-FGC-GA具有1200um可視范圍以及用于沿陣列的整個寬度掃描的自動橫向工作臺，是生產(chǎn)高質(zhì)量v型槽陣列的最快和最靈活的方式。

特點和優(yōu)勢

• 測量芯到芯間距，x偏置，y偏置和v型槽塊幾何形狀。

• 橫向調(diào)整階段和圖像拼接測量超過15毫米陣列寬度。

• 靈活的軟件可以調(diào)整不同的光纖類型(SM, PM, MM)。

• 1200um可視范圍可同時測量多達(dá)4個核心，減少整體測量時間。

• 可根據(jù)客戶要求提供自定義數(shù)組。

規(guī)格

STAR-FGC-P光纖涂層幾何系統(tǒng)

STAR-FGC-P光纖涂層幾何系統(tǒng)是測量光學(xué)參數(shù)光纖涂層幾何特性的快速、可靠的解決方案。 它可以處理涂層直徑從100um到260um的光纖，能夠測量外部和內(nèi)部涂層。它的快速和用戶友好性使其非常適合生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境，保持出色的重復(fù)性和可靠性。它使用一種新穎的液體電池設(shè)計，允許它重復(fù)測量甚至非常薄的光纖，包括極化保持（PM）光纖。被測試的光纖通過360°旋轉(zhuǎn)，并以用戶定義的間隔進(jìn)行測量，以盡量減少由光纖任何不對稱引起的任何測量不確定性。在多達(dá)36個不同的徑向位置測量涂層的能力確保了測量直徑、圓度和同心度的最高準(zhǔn)確度和可靠性。STAR-FGC-P光纖涂層幾何系統(tǒng)完全符合標(biāo)準(zhǔn)，并使用IEC-60793-1-21中描述的側(cè)視圖參考測試方法。STAR-FGC-P分析側(cè)視圖灰度強(qiáng)度輪廓，使用高速視頻和圖像處理技術(shù)確定涂層和包層邊界的位置。被測試的光纖通過360°旋轉(zhuǎn)，并以用戶定義的間隔進(jìn)行測量，以盡量減少由光纖任何不對稱引起的任何測量不確定性。

STAR-FGC-P可直接測量光纖涂層幾何參數(shù)，包括:

• 涂層直徑

• 包層不圓度

• 涂層覆層同心度

測量能力

可重復(fù)性

光學(xué)參數(shù)

物理參數(shù)

• *分析100條掃描線，平均5幅圖像。

• **使用超過12角位置的125/245雙丙烯酸酯涂層MM纖維樣品測量重復(fù)性，無需從FGC-P中取出。

• ***性能規(guī)格在22°C下驗證。

ODTR發(fā)射箱

當(dāng)使用OTDR測量光纖電纜時，發(fā)射箱（也稱為死區(qū)消除器）有助于最大限度地減少OTDR發(fā)射脈沖的影響，從而提高測量的準(zhǔn)確性。我們的高質(zhì)量發(fā)射箱有三種不同的外殼形式：

1. 堅固的“PELI”盒子版本是密封、防水和異常堅韌的。這些軍方批準(zhǔn)的箱子等級為IP65，在最惡劣的環(huán)境中使用。如果您想為您的鉛纖維提供最佳保護(hù)，請選擇此版本。

2. 鋁制“EuroCard”外殼比PELI外殼更小、更輕，為空間有限的工廠或?qū)嶒炇噎h(huán)境提供了理想的解決方案。

3. ABS“Midi”風(fēng)格的外殼比“Euro”略大，纖維長度更長。

我們可以提供一系列不同光纖類型的產(chǎn)品，包括帶有“ModCon”模式控制的版本，以使您的OTDR滿足IEC 61280-4-1中的包圍通量發(fā)射條件要求。我們所有的盒子都附帶完整的測試證書和1年保修（損壞的連接器除外）。我們提供標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品范圍，但我們也有能力根據(jù)您的精確要求定制解決方案。

特點和優(yōu)勢

• 提高OTDR測量精度

• 提供“ModCon”啟動調(diào)節(jié)，使其符合IEC61280-4-1的EF要求

• 堅固耐用的手提箱，在現(xiàn)場或工廠使用壽命長

• 可選09/125SM, 50/125MM, 62.5/125MM

• 可用自定義配置

• 用戶可更換輸入和輸出引線(需要熔接器)，使用壽命長

• 高質(zhì)量的組件，如Draka PCVD GIMM光纖

應(yīng)用

• 現(xiàn)場或工廠OTDR測試

• 從OTDR測量中去除“死區(qū)”

• OTDR測量的校準(zhǔn)比較

• 長距離系統(tǒng)循環(huán)回現(xiàn)場測試傳輸

規(guī)格

型號	“PELI”款	“Midi”款	“EuroCard”款
尺寸	232x192x111mm  9.25x7.75x4.5 in	155x240x35 mm  6.0x9.5x1.45 in	166x105x33 mm  6.5x4.1x1.3 in
重量	1.3kg(3.0 lb)	0.5kg(1.1 lb)	0.5kg(1.1 lb)
工作溫度	-40 to +55 C	0 to +40 C	0 to +40 C
典型損耗	＜0.5dB @ 1310nm 采用1km    sm光纖	＜0.5dB @ 1310nm 采用1km    sm光纖	＜1.0dB @ 1310nm with 200m mm fiber
輸入輸出引線長度	1m	1m	1m
實物圖

訂購須知

我們提供多種標(biāo)準(zhǔn)配置的OTDR發(fā)射箱:

“PELI”款中的OTDR引線盒-單模

“MIDI”款中的OTDR引線盒-單模

“PELI”款中的OTDR引線盒-多模

“EuroCard”款中的OTDR引線盒-多模

其他配置亦可定制。

相關(guān)光纖光纜

我們可以提供廣泛的標(biāo)準(zhǔn)線纜，用作光學(xué)參數(shù)系統(tǒng)測試的啟動點。這些線纜擁有最高的公差，為您提供標(biāo)準(zhǔn)且一致的測量數(shù)據(jù)。

特點和優(yōu)勢

• 創(chuàng)新-不尋常的連接器、光纖和電纜組合

• 可靠- 100%測試插入損耗，回波損失，端面特征和表面光潔度

• 高性能-低插入損耗/高回波損耗/自定義波長

連接頭

光纖

電纜

具體數(shù)據(jù)

IFA-100光纖折射率分析儀

我們專注于橫向干涉測量法，它是最敏感的光纖測量技術(shù)。我們獨家專利的多波長光纖折射率分析技術(shù)最早是在OFC/NFOEC  2009上發(fā)布的，并且此后一直成為同行業(yè)審查會議和期刊出版的主題。因為測量是橫向執(zhí)行（通過光纖的端口），所以它從本質(zhì)上是無損檢測。雖然光纖的高分子涂層或者緩沖區(qū)必須被去除，光纖本身仍然可以繼續(xù)傳輸測量中的光信號，同時如果必要的話那些高分子涂層在光纖測量之后可以被完全恢復(fù)。

產(chǎn)品特點

• 多波長

• 無劈開要求

• 亞微米空間分辨率

• 適用于任何形式光纖

• 快速測量

• 可測量接頭、錐度、耦合器

技術(shù)參數(shù)